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原子力顯微鏡探針 - 來(lái)寶百科

原子力顯微鏡（AFM),是一種具有原子分辨率的表面形貌、電磁性能分析的重要儀器。首臺(tái)原子力顯微鏡在1985年研發(fā)成功，其模式可分為接觸模式和輕敲模式等多種模式。AFM探針由于應(yīng)用范圍僅限于原子力顯微鏡，屬于高科技儀器的耗材，應(yīng)用領(lǐng)域不廣，全世界的使用量也不多。主要的生產(chǎn)廠家分布在德國(guó)，瑞士，保加利亞，美國(guó)等。由于的探針壽命短，分辨率不高也不穩(wěn)定且一致性差，各國(guó)都在開(kāi)發(fā)新型探針。  詳情 >
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